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透射电子显微镜(JEM-F200)试运行公告

万博体育maxbextx3.0·主頁欢迎您科研公共服务条件平台透射电子显微镜(JEM-F200)已经安装调试完毕,即日起对校内开放试运行,欢迎校内师生预约测试!

一、功能特色

JEM-F200透射电镜搭载有场发射电子枪,能够达到更高的分辨率。自动化测角台,能够实现自动进出样品杆。配备有双探头超级能谱仪,能够实现快速高精度的EDS分析,搭配STEM模式,可以进行点,线,面的EDS Mapping分析。搭载有Gatan底插Oneview相机,能够拍摄更加清晰的高分辨图像。

二、基本参数

型号:JEM-F200

厂家:日本电子株式会社(JEOL)

电子枪类型:热场发射枪

加速电压:80 – 200 kV

TEM点分辨率:0.23 nm

TEM线分辨率:0.1 nm

STEM分辨率:0.16 nm

放大倍率:MAG模式2000–2M倍

Low MAG模式50–6,000倍

STEM模式100–150M倍

相机:Gatan Oneview相机

能谱:JED2300T超级双能谱仪(100 mm2双探头)

三、应用领域

透射电子显微镜已被广泛用于金属材料、半导体材料、有机复合材料等的形貌拍摄和结构表征。JEM-F200因具有较高的分辨率,在材料的形貌拍摄、晶体结构表征、样品元素分析等方面可以发挥出重要作用。

预约请登录:http://facility.whu.edu.cn

地点:万博体育maxbextx3.0·主頁欢迎您尖端科技楼101C

联系人:李老师 13163286278


发布单位: 科研公共服务条件平台

发布日期: 2022-09-12

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